引言

半導體數(shù)字測試，特別是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件轉換而成的數(shù)字測試程序，往往需要擴展到多個DUT測試位點。本文討論了使用GtDio6x產品線和ATEasy®進行多位點測試的系統(tǒng)硬件和軟件需求，以提供一個成本有效的解決方案。

數(shù)字設備設計注意事項

在設計多位點測試程序時，設計者可能無法完全明確成本和性能之間的取舍。在評估GX5296或GX5964系列動態(tài)數(shù)字儀器的性能和能力后，可以合理地推斷單個GtDio6x板卡的大量通道應該能夠支持多位點數(shù)字測試解決方案。雖然這種解決方案是可能的，但它并不能構建一個性能能滿足每個DUT測試位點都使用數(shù)字資源或板卡的測試系統(tǒng)。

基于逐個位點的多數(shù)字域的解決方案

Marvin Test Solutions公司建議設計基于每個位點的多數(shù)字域的多位點測試系統(tǒng)，以便每個DUT測試位點使用自己的數(shù)字資源，如圖1所示。該解決方案提供了最快的多位點測試性能，因為每個DUT測試位點可以獨立運行。

圖1 -多域解決方案框圖

使用這種配置方法，每個DUT測試位點都可以使用所有的數(shù)字資源。通過讀取實時比較(RTC)錯誤狀態(tài)寄存器，可以立即識別每個DUT測試位點的測試狀態(tài)。此外，系統(tǒng)可以設計成每個DUT測試位點使用相同的數(shù)字測試文件和測試程序。通過增加額外的數(shù)字領域，DUT測試位點可以很容易地擴展。使用ATEasy®也可以輕松創(chuàng)建一個多線程測試程序來執(zhí)行此測試。

表1 -多域解決方案的相對優(yōu)點

基于單一數(shù)字域的解決方案

如圖2所示，使用單個數(shù)字域設計的多位點數(shù)字測試系統(tǒng)有幾個缺點。首先，每個測試位點不能再使用相同的數(shù)字文件。單一數(shù)字域的多位點數(shù)字測試解決方案需要一個獨立的應用程序從原始數(shù)字文件創(chuàng)建額外的測試位點。這個額外的應用程序需要將原始通道和矢量數(shù)據(jù)復制到所有新的DUT測試位點。

圖2 -單一域解決方案框圖

盡管僅讀取和評估記錄存儲器就可以確定所有DUT位點的狀態(tài)，但由于大多數(shù)數(shù)字測試的大小都非常大，這種方法并不實用，因為它會消耗太多的測試時間。

RTC錯誤地址內存包含高達1K的失敗向量地址，可以讀取每個地址的記錄內存來確定失敗的DUT位點。由于每個測試入口都表示一個失敗的位置，所以不會浪費時間從記錄內存中讀取大量部分來確定測試失敗。除非失效次數(shù)小于1k或以上所述所有DUT均已失效，否則無法確定所有DUT的狀態(tài)。在這種情況下，測試程序必須禁用失敗的測試位點，并重新運行數(shù)字測試，直到所有DUT測試位點的狀態(tài)已知。GtDio6x系列數(shù)字儀器提供了一種在檢測到故障時中止測試序列的方法;當出現(xiàn)故障時，該特性可以節(jié)省測試時間。

表2 -單域解決方案的相對優(yōu)點

方案比較

以下是兩種方案的比較：

總結

除非半導體測試系統(tǒng)的空間(PXI插槽)十分寶貴，否則多位點測試系統(tǒng)在設計時還是應該為每個DUT測試位點提供一個數(shù)字域。雖然硬件的前期成本會很高，但這會在后期測試過程中帶來巨大的回報。這保證了盡可能快的測試時間并簡化了測試編程，在多位點數(shù)字測試系統(tǒng)的設計中，這些功能是至關重要的。