測試目的

驗(yàn)證待測電源在輸出負(fù)載動態(tài)變化時(shí)，輸出電壓及信號是否符合規(guī)格要求：

- 電壓波動范圍，

- 瞬態(tài)響應(yīng)能力。

測試條件及示意圖

- 輸入：規(guī)格中定義的最小及最大輸入交/直流電壓，最小及最大交流頻率

- 輸出：規(guī)格中定義的動態(tài)負(fù)載電流條件及規(guī)格所允許的最小電容負(fù)載

- 溫度：最低工作溫度，常溫及最高工作溫度

- 示波器采樣方式：一般設(shè)為Sample或Hi-res模式

負(fù)載設(shè)置（如圖示）

測量波形數(shù)據(jù)

如下圖中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)：

- 電壓值：Vo-max, Vovershoot, Vo-stable1, Vo-stable2, Vo-undershoot, Vo-min,

- 響應(yīng)時(shí)間：tR1，tR2

- 參考值：t1, t2,Iomax,Io-min；或負(fù)載占空比，頻率,Iomax,Io-min；

測試步驟

1）設(shè)定最低環(huán)境工作溫度，最小輸入電壓/頻率；對需做動態(tài)響應(yīng)測試的輸出，依規(guī)格要求設(shè)定其負(fù)載電流的起、止點(diǎn)，負(fù)載電流的上升、下降速率(Slew Rate)及負(fù)載電流的變化周期；其他輸出負(fù)載按照Regulation Table要求設(shè)定；

2）開機(jī)后按規(guī)格要求，調(diào)整負(fù)載電流的變化周期(t1,t2)，觀察輸出波形的變化；

3）記錄使Vo-max、Vovershoot、Vundershoot及Vo-stable1最大，Vo-min及Vo-stable2最小的測試條件, 測量輸出電壓的各對應(yīng)值及輸出響應(yīng)時(shí)間，并保存波形；

4）在步驟3的動態(tài)電流的變化周期下，改變其他輸出負(fù)載條件，使Vo-max、Vovershoot、Vundershoot及Vo-stable1最大，Vo-min及Vo-stable2最小，測量并記錄相應(yīng)數(shù)據(jù)；

5）以步驟3及4找到的最差負(fù)載條件為負(fù)載，以待測電源所提供的各種開機(jī)方式開機(jī)(如AC on, PS_ON on)；

6）依次改變測試條件(動態(tài)負(fù)載起始點(diǎn)，輸入電壓/頻率及環(huán)境溫度)，重復(fù)步驟2、3、4、5；

7）同樣方法測試其他輸出動態(tài)響應(yīng)。

判定條件

各輸出測量值符合規(guī)格要求：

- 不能有震鈴(Ringing, 反饋回路欠阻尼)現(xiàn)象,

- 待測電源不可以損壞(Damaged/Broken down),

- 待測電源不可以工作不穩(wěn)定，甚至關(guān)機(jī)(Shut down),

- 響應(yīng)時(shí)間符合要求。

* 判定圖例 1

如下圖中的各輸出測量值符合規(guī)格要求；雖有過阻尼，但可接受；

* 判定圖例 2

雖然如下圖中的各輸出測量值符合規(guī)格要求，但反饋回路欠阻尼(不穩(wěn)定)，故不能接受。

改善動態(tài)響應(yīng)的對策參考：

- 適當(dāng)改善反饋響應(yīng)速率(如適當(dāng)減小431上RC電路中的電容量、增加光耦電流、減小電流檢測PIN腳上RC電路中的電容值)，但需注意噪聲、重載開機(jī)問題；另外，這一方案也受制于實(shí)際設(shè)計(jì)方案的選擇：

* PWM方式受最大占空比的限制(Flyback：約0.8，單端正激0.5，其他如Push-pull、Half-bridge，F(xiàn)ull-bridge等為0.8，Boost為0.9等)，因此設(shè)計(jì)初期最大占空比的選擇就應(yīng)當(dāng)保留一定的余量；

* PFM方式也受制于工作頻率限制，以免產(chǎn)生噪聲或EMI的問題；

在容許的情況下(較低的電容電壓)，盡可能讓占空比或開關(guān)頻率在動態(tài)情形下逐步增大，以避免如電流應(yīng)力加大等問題；

- 增加輸出電容容量或并聯(lián)數(shù)量，適當(dāng)降低輸出儲能電感的感量

* 電感中的電流不能突變，這是影響輸出動態(tài)響應(yīng)的關(guān)鍵，尤其在CCM模式的時(shí)候，因此，適當(dāng)降低感量可以改善動態(tài)響應(yīng)，但需要考慮輕載時(shí)的反饋穩(wěn)定性問題(CCM轉(zhuǎn)變成DCM會造成系統(tǒng)不穩(wěn)定)

* 電容的電流可以突變，因此，可以考慮適當(dāng)考慮增加電容容量或數(shù)量來改善，如果Layout空間允許的話。

- 采用多個(gè)變換器并聯(lián)方案，但成本會較高，這在電流變化速率要求較高的場合(如CPU供電的3~6相V-core電路)；

- 增加開關(guān)頻率，以更快的速度傳遞能量，但需考慮元器件的頻率特性、EMC及效率等問題；

以上的方案在實(shí)際應(yīng)用中，需綜合考慮。