EMI預(yù)兼容測(cè)試選件
幾乎任何用于銷售電子產(chǎn)品都需進(jìn)行電磁兼容性（EMC）測(cè)試，必須確保產(chǎn)品符合監(jiān)管機(jī)構(gòu)規(guī)定的規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。
EMC測(cè)試必要性
聯(lián)邦通信委員會(huì)（FCC）規(guī)定了電磁兼容性測(cè)試的規(guī)則。CISPR和IEC測(cè)試定義也在全球范圍內(nèi)被廣泛使用。全面的合規(guī)性測(cè)試可能很昂貴，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全面合規(guī)性測(cè)試還需要專門(mén)的測(cè)試環(huán)境。如果在合規(guī)性測(cè)試中發(fā)現(xiàn)任何問(wèn)題，設(shè)計(jì)人員需要回到工程部門(mén)進(jìn)行分析和可能的重新設(shè)計(jì)。這可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品發(fā)布延遲和設(shè)計(jì)成本明顯增加。
EMI預(yù)兼容測(cè)試方案
作為EMC測(cè)試的一部分，EMI測(cè)試在產(chǎn)品設(shè)計(jì)早期階段的介入是必要的。
以O(shè)WON的方案為例，主要由
1、OWON全系列頻譜分析儀
2、EMI選件
3、ORF5060近場(chǎng)探頭
提供了快速預(yù)兼容測(cè)試系統(tǒng)方案。通過(guò)近場(chǎng)測(cè)量可以很方便的進(jìn)行定性的診斷測(cè)量，發(fā)現(xiàn)電磁輻射大的區(qū)域，對(duì)潛在的問(wèn)題進(jìn)行定位。
1. OWON頻譜分析儀
OWON全系列頻譜儀具有便捷的操作界面和簡(jiǎn)潔的顯示風(fēng)格，采用成熟的數(shù)字中頻技術(shù)，最小分辨率帶寬(RBW)低至 1Hz，標(biāo)配前置放大器，顯示平均噪聲電平(DANL)達(dá)-161 dBm/Hz，具備微小信號(hào)測(cè)量能力，全幅度精度<0.7 dB，測(cè)量結(jié)果精確可信。
2. EMI預(yù)兼容測(cè)試軟件
OWON頻譜分析儀可通過(guò)儀器升級(jí)獲得
EMI預(yù)兼容測(cè)試軟件！??！
EMI模式包含掃描、測(cè)量、計(jì)量三個(gè)流程，可以靈活配置流程。EMI測(cè)量模式提供了完整的CISPR限值和檢波器，包括準(zhǔn)峰值、峰值、有效值平均。工程師可加載EMI 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)限制線，用戶也可以自定義限制線。還可以使用標(biāo)準(zhǔn)EMI分辨率帶寬(200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz)。
EMI 濾波器仍是準(zhǔn)高斯形狀，只是其脈沖帶寬定義為-6dB，相比于傳統(tǒng)的高斯濾波器具有更好的頻率選擇性。準(zhǔn)峰值檢波是一種快速充電，慢速放電的檢波器，時(shí)間加權(quán)的檢波方式，它將時(shí)間上間斷出現(xiàn)的干擾信號(hào)進(jìn)行幅度的加權(quán)平均作為結(jié)果顯示。
這樣即使幅度很大但是出現(xiàn)概率很低的干擾信號(hào)可能得到較低的準(zhǔn)峰值檢波結(jié)果，而幅度很小但是出現(xiàn)概率很高的干擾信號(hào)也有可能得到較高的準(zhǔn)峰值檢波結(jié)果，這種加權(quán)比較適合電子設(shè)備對(duì)干擾信號(hào)的反應(yīng)。但是準(zhǔn)峰值檢波的平均過(guò)程測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，并不利于日常的診斷。
因此在進(jìn)行 EMI 預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，可以先用峰值檢波快速發(fā)現(xiàn) EMI 問(wèn)題頻點(diǎn)，然后針對(duì)這些峰值點(diǎn)專門(mén)進(jìn)行準(zhǔn)峰值測(cè)量，以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
（EMI界面）
（內(nèi)置國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)限制線）
選擇EMI模式可在儀器上通過(guò)觸摸屏、鼠標(biāo)和鍵盤(pán)進(jìn)行操作。這使報(bào)告存檔、掃描運(yùn)行以及跳轉(zhuǎn)到感興趣的信號(hào)并立即調(diào)試變得容易。右側(cè)條形顯示給定頻率的實(shí)時(shí)測(cè)量值。此程序可在掃描后快速移動(dòng)到感興趣的信號(hào)，它可以在頻率上實(shí)時(shí)測(cè)量最多3個(gè)檢波器的數(shù)據(jù)，為調(diào)試和進(jìn)一步分析提供便捷。
3.ORF近場(chǎng)探頭
對(duì)于輻射發(fā)射，使用近場(chǎng)磁性（H場(chǎng)）探頭拾取通過(guò)探頭末端小環(huán)路傳播的發(fā)射。這些磁性探頭只能捕獲探頭附近的信號(hào)，因此被稱為“近場(chǎng)”探頭。這使得它們非常適合基本的可視化，因此工程師可以通過(guò)將探頭掃過(guò)區(qū)域快速掃描新的電路板或外殼來(lái)查找問(wèn)題。較大的探頭雖能提升掃描速度，但相應(yīng)的空間分辨率會(huì)有所降低。
在此過(guò)程中，探頭充當(dāng)天線角色，負(fù)責(zé)捕獲接縫、開(kāi)口、引腳及其他可能產(chǎn)生RF輻射的元件所釋放的信號(hào)。為確保測(cè)試的全面性，對(duì)所有電路元件、連接器、旋鈕、箱體開(kāi)口及接縫的徹底掃描是不可或缺的。通常對(duì)于此類EMI可視化測(cè)試，無(wú)需使用屏蔽室或屏蔽裝置，因?yàn)樘筋^主要記錄的是極為接近的信號(hào)。工程師可通過(guò)調(diào)整探頭的方向及位置，來(lái)識(shí)別發(fā)射源。
（天線補(bǔ)償參數(shù)）
內(nèi)置針對(duì)天線，LISN，電纜的頻響補(bǔ)償，可選擇對(duì)應(yīng)的天線，用戶也可自定義頻響補(bǔ)償。通過(guò)OWON的EMI方案可以簡(jiǎn)便快速預(yù)兼容測(cè)試，這會(huì)最大限度地減少產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。
ORF5060 近場(chǎng)探頭
END
