隨著高速光通信的快速發(fā)展，光的偏振特性越來越受到重視，尤其在密集波分復用中使用的無源光器件都具有偏振相關損耗，傳統(tǒng)的插入損耗測試方法很難準確表征器件的損耗；另外，在分布式光纖傳感中，偏振擾動會將相干后的待測信號淹沒。為了有效解決以上問題，電科思儀實現(xiàn)光擾偏技術突破，推出全新Ceyear 85200B光擾偏器，該產(chǎn)品具有擾偏速度快、擾偏效果好、成本低等多種優(yōu)點。典型指標包括：擾偏速率＞1.2MHz；擾偏后偏振度＜5%；產(chǎn)品可工作在O波段和C波段。

圖 1 Ceyear 85200B光擾偏器實物圖

1、光擾偏器的工作原理

用較高的速度不斷改變輸入光的偏振態(tài)，在一段時間內(nèi)，偏振態(tài)均勻覆蓋整個邦加球，在該時間窗口平均后，作用效果等效為非偏振光，進而消除偏振抖動對測試的影響。改變偏振態(tài)的方法一般基于彈光效應或電光效應，Ceyear 85200B光擾偏器基于前者，采用全光纖方案，具有低插入損耗和低偏振相關損耗優(yōu)點。

2、光擾偏器的核心指標

擾偏后偏振度，表征經(jīng)過光擾偏器的光在邦加球覆蓋的均勻程度。偏振態(tài)穩(wěn)定的光在邦家球的球面上表示為一個不動的點，該光經(jīng)過光擾偏器，在短時間內(nèi)偏振態(tài)布滿整個球面，偏振態(tài)在邦加球覆蓋的越均勻，說明光擾偏器擾偏效果越好，如圖2。

圖 2Ceyear 85200B光擾偏器擾偏效果示意圖

3、在光芯片生產(chǎn)過程插入損耗測試應用

利用常規(guī)方法測試硅光芯片的插入損耗，由于芯片固有的偏振相關損耗，測試結果受輸入光偏振態(tài)影響大，重復性差。使用Ceyear 85200B光擾偏器對入射光進行擾偏后再進行測試，能夠準確測得待測件的平均插入損耗，降低偏振態(tài)變化對測試結果的影響。圖3為該模塊利用本公司Ceyear 9951A光波測試平臺，并搭配平臺可選光源、光開關和光功率計等模塊，實現(xiàn)的硅光芯片插入損耗測試一體化平臺實物圖?；贑eyear 9951A光波測試平臺，選配多種可插拔光電測試模塊，還可實現(xiàn)多種其余光電測試方案定制開發(fā)。

圖 3光芯片插入損耗測試平臺框圖和實物圖

4、光纖傳感中偏振擾動抑制應用

在光纖傳感領域，尤其涉及相干光纖傳感領域，傳感系統(tǒng)的偏振擾動會在相干過程中疊加到信號中，降低信噪比，甚至將待測信號淹沒。將Ceyear 85200B光擾偏器插入相關光路中，在一段時間內(nèi)累加平均，可降低偏振擾動對系統(tǒng)的影響，增強系統(tǒng)抗干擾能力，如圖4為加入光擾偏器前后測試結果的對比。

圖 4光擾偏器在相干光纖傳感領域應用效果示意圖