優(yōu)于0.02nm的光譜分辨率、80dB的動(dòng)態(tài)范圍以及-90dBm的功率靈敏度，電科思儀實(shí)現(xiàn)光譜測(cè)試技術(shù)新突破！電科思儀推出的新一代6362D光譜分析儀，產(chǎn)品覆蓋600nm～1700nm光譜測(cè)試范圍，從光有源、光無(wú)源器件的產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試到波分復(fù)用系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)驗(yàn)證，6362D都能夠快速、準(zhǔn)確地滿(mǎn)足相關(guān)領(lǐng)域的測(cè)試需求。

突破了更小的的測(cè)試光譜分辨率，細(xì)致入微

6362D光譜分析儀具有非常高的光譜分辨能力，能夠精準(zhǔn)分辨出波長(zhǎng)密集的光譜信號(hào)。根據(jù)測(cè)試需求，可以靈活切換2nm、1nm、0.1nm、0.05nm等多個(gè)分辨率設(shè)置，最小光譜分辨率優(yōu)于0.02nm！

突破了更大的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍，更高的靈敏度

作為新一代產(chǎn)品，6362D光譜分析儀不僅大幅度提升了測(cè)試精度、掃描速度，還提供不同靈敏度以供設(shè)置，可測(cè)量功率范圍最大可達(dá)到+20dBm，最小到-90dBm的光功率信號(hào)，動(dòng)態(tài)范圍可以達(dá)到80dB以上。

實(shí)現(xiàn)了更全面的測(cè)試功能

無(wú)論是LED/FP-LD/DFB-LD等光有源器件測(cè)試，還是光纖/光纖光柵等光無(wú)源器件測(cè)試、DWDM系統(tǒng)測(cè)試，6362D光譜分析儀都能適配！實(shí)現(xiàn)中心波長(zhǎng)、光譜帶寬和邊模抑制比等光譜參數(shù)的全面測(cè)試。

提升了更友好的人機(jī)交互，簡(jiǎn)單高效

6362D產(chǎn)品配備12.1英寸可觸控屏幕，使用觸控便可以輕松完成波形掃描、參數(shù)設(shè)置、波形局部放大等操作，簡(jiǎn)化復(fù)雜的分析過(guò)程，觀察波形簡(jiǎn)單直觀，高效易懂。產(chǎn)品還支持空間光輸入，配有內(nèi)置的校準(zhǔn)光源，為高精度的光譜測(cè)試保駕護(hù)航。