2021年1月19日，北京——是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，推出三款新型PXIe 源表模塊，旨在滿足高精度、高分辨率測試應用的靈活測量需求。這些應用包括半導體以及其他非線性器件和材料的電流-電壓（I-V）表征及測試。

源表（SMU）是一種能夠同時供電和測量的電子儀器，可以精準地施加電壓或電流，同時對電壓和/或電流進行精確測量。是德科技源表產品豐富多樣，總體分為四個類別：精密型、特定應用型、通用型和基礎型。

是德科技此次發(fā)布的新款源表模塊包括：

Keysight M9601A PXIe 精密型 SMU模塊，非常適用于要求高分辨率、高精度的各種電流電壓（I-V）測量任務，如半導體、有源/無源元器件和通用電子器件的表征，以及參數/可靠性測試。憑借 500 nV/10 fA 的精密分辨率，這款產品可以支持最高達到 210 V/315 mA 的精準測量。脈沖和采樣測量功能使得 M9601A 能夠以 1.25 MSa/s 的采樣率執(zhí)行從直流到最低 20 μs 脈沖的各種測量。

Keysight M9614A 和 M9615A 是 PXIe 五通道精密型 SMU模塊，非常適合有高通道密度要求的應用，譬如半導體可靠性測試和集成電路（IC）測試。憑借 6 uV/10 pA 的精密分辨率，這兩款儀器可以支持最高 30 V/500 mA 的精準測量，并且能以更低的通道成本提供比常規(guī) PXIe 四通道 SMU模塊 更大的輸出范圍。這兩款儀器的無縫電流測量量程調節(jié)功能省去了更改量程所需的時間，并將動態(tài)范圍擴展到了四個測量量程，從而大大縮短了測試的整體耗時。

Keysight M9602A 和 M9603A 是 PXIe 精密型 SMU模塊，具有脈沖寬度窄（10 μs）、輸出范圍大的特點，采樣速率最高達到 15 MSa/s。它們能為測試垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）光學器件以及輸出范圍大、分辨率高的集成電路（IC）等大量新興應用提供動態(tài)/脈沖測量。此外，這兩款儀器的噪聲低，能夠支持短孔徑時間測量，無縫電流測量量程調節(jié)功能省去了更改量程所需的時間，提高了測試吞吐量。

是德科技電子行業(yè)產品副總裁 Christopher Cain 表示：“過去幾十年以來，是德科技一直在為業(yè)界提供高精度 SMU。我們的增強型臺式 B2900B 系列 源表在精度、精密性和測量吞吐量方面樹立了新標桿。我們以自身深厚的 SMU 專業(yè)知識和最新電子技術為基礎，打造出了一系列高精度 PXIe 模塊化 SMU模塊。這些高密度測量 SMU 模塊可在 PXIe 系統中靈活擴充，從而縮短多達 25% 的總體測試時間，這對于垂直腔面發(fā)射激光器件和量子計算測量具有非常重要的意義?！?