前　　言：

耐壓(Withstanding)、絕緣(Insulation Resistor)、接地電阻(Ground Bond)是電氣安規(guī)測試儀的測試功能，其中的耐壓測試是用電設(shè)備出廠前的必測項目，雖然這些測試應(yīng)用廣泛，但是許多工程師還是存在著一些知其然卻不知其所以然的問題，在這份應(yīng)用白皮書中我們整理了十個最常見的問題，從基本面來探討這些問題的解答。

這十個問題分別是：

1、耐壓測試的電壓要設(shè)置多少? 為何耐壓測試的電壓比工作電壓高那么多?

2、為何有三種測試波形?

3、測試時間要設(shè)定多久?

4、耐壓儀器的容量如何選擇?

5、絕緣體及絕緣崩潰的定義?

6、按照絕緣崩潰的定義，如何避免誤判?

7、發(fā)現(xiàn)電弧ARC、閃絡(luò)(Flashover)是否意味絕緣已崩潰?

8、絕緣電阻與耐壓的測試順序，通過絕緣電阻測試后可以不測耐壓嗎?

9、高壓的耐壓測試是否會損壞電路中昂貴的芯片?

10、接地與導(dǎo)通性量測的差別?

除了這十個常見的問題外，因?yàn)楦邏簝x器(用于絕緣電阻量測或耐壓測試的儀器)的安全隱患，所以IEC制定了對于高壓儀器的最新規(guī)范IEC-61010-2-034來確保工程師使用儀器的安全，本文也將探討這些安全隱患以及儀器廠商的因應(yīng)對策，讓您在分析絕緣材料或產(chǎn)測時得以安全地完成測試任務(wù)，最后我們將從研發(fā)到產(chǎn)測的測試計劃及設(shè)備選購提供有效的建議。

電氣安規(guī)測試的十個為什么?

四、安規(guī)耐壓儀器的容量如何選擇?

圖四為待測物的等效電路，接下來我們來討論在問題二中留下的議題，為何需要直流耐壓的測試與交流耐壓測試泄漏電流量測誤差大的原因。

圖四：待測物的等效電路

IR是流過絕緣電阻的電流；IC是流過等效電容(包含雜散電容與濾波電容)的電流，IT是耐壓機(jī)量到的泄漏電流，IC=VTest/XC，XC=1/2πfC，在交流耐壓測試時，頻率f為60Hz，當(dāng)電容C越大時，XC便越小、IC就越大，造成的泄漏電流IT的誤差就越大。

如果改采直流呢? 頻率f為0Hz，XC為無窮大，IC為0，所以量到的IT泄漏電流=IR，不會造成誤差。

在絕緣電阻上要建立足夠的測試電壓，用直流的波形測試所需的電流較小，相對交流而言便較為安全。

從等效電路解釋完交/直流耐壓在準(zhǔn)確度上的議題后，接下來回到主題，耐壓機(jī)的容量如何選擇？目前市面上的耐壓機(jī)有100VA/200VA/250VA/500VA等可選擇，以5000V為例，500VA可提供100mA，200VA可提供40mA，要用多少容量其實(shí)是取決于要有多大的電流來維持測試電壓，我們期待在待測的絕緣電阻上建立足夠的測試電壓來確認(rèn)絕緣是否良好，但是當(dāng)絕緣崩潰時，絕緣電阻會下降，此時的電流如果不足(容量不足)便無法在這個電阻值下降的電阻上建立足夠的電壓。這個現(xiàn)象類似直流電源供應(yīng)器從CV模式轉(zhuǎn)到CC模式，當(dāng)絕緣電阻很大時(負(fù)載電流小)，當(dāng)絕緣崩潰時，絕緣電阻變小(負(fù)載電流變大)，此時便需要容量來支撐，所以在研發(fā)單位或第三方實(shí)驗(yàn)室需要做材料的破壞性實(shí)驗(yàn)會需要500VA的容量，而產(chǎn)測的例行測試最常選擇100VA的機(jī)種，其原因在于到了大量生產(chǎn)時產(chǎn)品的良率是很高的，以絕緣電阻100MΩ為例，建立5000V的測試電壓，負(fù)載電流不過50uA；建立1500V的測試電壓，負(fù)載電流不過15uA，以100VA的容量來看綽綽有余，當(dāng)然如果是交流耐壓還需考慮等效電容的影響。

在此我們總結(jié)一下交流耐壓與直流耐壓測試的優(yōu)缺點(diǎn)：

交流耐壓

優(yōu)點(diǎn)

1、與真實(shí)環(huán)境波形相同，因此受標(biāo)準(zhǔn)青睞

2、正半周、負(fù)半周都測試

3、對待測物的等效電容沒有充放電時間的議題

缺點(diǎn)

1、因?yàn)榈刃щ娙莸碾娏髟斐尚孤╇娏鞯牧繙y誤差

2、整體的測試電流較大，可能需要購買更大的容量，如果工程師誤觸輸出端相對而言較為危險。

直流耐壓

優(yōu)點(diǎn)

1、泄漏電流的量測準(zhǔn)確度高

2、整體的測試電流較小，購買時可能降低容量的成本，如果工程師誤觸輸出端，相對于交流而言較為安全。

缺點(diǎn)

1、僅測試半周

2、須對電容充電、放電，會增加測試的時間

五、絕緣體及絕緣崩潰的定義？

在電學(xué)的教科書中，常以電阻率來定義導(dǎo)體(低于10-5Ω˙m)、半導(dǎo)體(電阻率介于導(dǎo)體與絕緣體之間)、絕緣體(高于108Ω˙m)，在此定義下銅是導(dǎo)體，空氣是絕緣體，但從自然界中的閃電/雷擊現(xiàn)象，可得知絕緣是有條件的，只要電壓夠高，絕緣體也能變成導(dǎo)體，再從微觀的角度觀察，銅是導(dǎo)體，奈米銅卻是絕緣體；碳是絕緣體，奈米碳卻是導(dǎo)體，由此可見宏觀與微觀的物理特性可能改變，以下是維基百科對絕緣體的定義：絕緣體（英語：Insulator），又稱介電質(zhì)或絕緣子，是一種阻礙電荷流動的材料。在絕緣體中，價帶電子被緊密的束縛在其原子周圍。這種材料在電氣設(shè)備中用作絕緣體，或稱起絕緣作用。其作用是支撐或分離各個電導(dǎo)體，不讓電流流過，這段描述可簡化為放諸四海皆準(zhǔn)的最佳定義：絕緣體不讓電流流過。

了解絕緣體的定義后，接著說明絕緣崩潰的定義，以下是UL/IEC 60950-1章節(jié)5.2.2對于絕緣崩潰的原文敘述如下：

Insulation breakdown is considered to have occurred when the current that flows as a result of the application of the test voltage rapidly increases in an uncontrolled manner, that is the insulation does not restrict the flow of the current.

絕緣崩潰的認(rèn)定是：待測絕緣所流經(jīng)之電流已經(jīng)可以隨測試電壓的上升而產(chǎn)生對應(yīng)的電流（失控地陡升），也就是說，待測絕緣已經(jīng)無法有效地于測試電場強(qiáng)度下限制電流的增長。氣態(tài)與液態(tài)的絕緣物質(zhì)具備絕緣崩潰的可逆性，當(dāng)造成絕緣崩潰的高壓消失后可恢復(fù)到絕緣的狀態(tài)，而固態(tài)絕緣則不具備此可逆性，一旦絕緣崩潰對其絕緣能力便造成永久性的傷害。

六、按照絕緣崩潰的定義，如何避免誤判?

大多數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)在耐壓測試的允收標(biāo)準(zhǔn)上僅說明測試的電壓，在此電壓及測試時間內(nèi)不能造成絕緣崩潰，僅有少數(shù)的產(chǎn)測標(biāo)準(zhǔn)是定義泄漏電流不能超過多少電流。絕緣及絕緣崩潰的簡要口訣為：絕緣體不讓電流流過，當(dāng)絕緣體上的跨壓越來越大時，導(dǎo)致電流失控的陡升稱為絕緣崩潰，所以這個敘述的V-I特性曲線如圖五。

圖五：絕緣崩潰的V-I特性曲線（來源：固緯電子）

傳統(tǒng)采用絕對值泄漏電流可能的誤判影響：產(chǎn)線的泄漏電流允收標(biāo)準(zhǔn)如何決定?有些公司是采用平均值法，透過樣品的測試，計算平均值后加上25%作為允收上限，或以對人體會產(chǎn)生危害的30mA泄漏電流值作為管制上限(配電上的漏電斷路器一般也以30mA作為動作電流)，人體感知電流的影響，請見表二。

如果您的待測物價值不斐，采用絕對值泄漏電流的方式可能造成假失敗，因?yàn)榻^緣崩潰的定義是要看到電流失控的陡升，所以能夠看到測試結(jié)果的V-I特性曲線對于研發(fā)階段的材料驗(yàn)證與單價昂貴產(chǎn)品的產(chǎn)線測試非常重要，目前固緯電子的GPT-9900系列、GPT-12000/15000系列電氣安規(guī)分析儀皆具備V-I特性曲線掃描功能，不會造成誤判的損失，實(shí)測結(jié)果請見圖七。

人體感知電流的影響

圖六：假失敗的影響

圖七：GWInstek GPT-12000/15000系列電氣安規(guī)分析儀的V-I絕緣崩潰案例

敬請期待，未完待續(xù)！