相噪測試，可以用相噪測試儀或頻譜儀的相噪分析選件完成，其操作設(shè)置十分簡單，基本上只需設(shè)置頻率范圍以及平均或互相關(guān)模式和次數(shù)即可。但是，對(duì)于相噪非常低的DUT，尤其近端相噪測試，自動(dòng)默認(rèn)設(shè)置的相噪測試曲線不夠平滑，可能出現(xiàn)異常相噪測試數(shù)據(jù)。那么，如何優(yōu)化儀器設(shè)置呢？

R&S的相噪測試儀FSWP或者頻譜儀內(nèi)置軟件K40，都可以完成相噪測試的任務(wù)，測試人員需要知道關(guān)鍵參數(shù)的含義和設(shè)置方法

· 平滑：設(shè)置范圍是1~20%，指的是平滑計(jì)算的點(diǎn)數(shù)占曲線總點(diǎn)數(shù)的百分比，默認(rèn)平滑是1%。

· 分辨率帶寬：RBW，相對(duì)于分段FFT的頻率段的相對(duì)值，越小分辨率越高，默認(rèn)值10%。

· 雜散：spur，曲線上的尖刺，須從相噪曲線數(shù)據(jù)中剝離。

儀器上通常默認(rèn)顯示兩條曲線

· trace1是平滑smooth后的曲線，用來獲取相噪數(shù)據(jù)；

· trace2沒有平滑，一般用來讀取雜散、剩余噪聲和抖動(dòng)等數(shù)據(jù)。

有時(shí)默認(rèn)設(shè)置的曲線雜散很多，曲線起伏不平坦，如下圖，測試曲線劇烈起伏，在100Hz偏移處-103.41dBc/Hz明顯是雜散讀數(shù)。

優(yōu)化設(shè)置：

· 采用多次互相關(guān)或平均，DUT相噪越低，設(shè)置次數(shù)越高

· 減小分辨率帶寬，RBW 1%

· 黃色曲線Trace1 smooth>3%

· 設(shè)置曲線不顯示雜散：Trace1 spur removal ON，如果FSWP需要設(shè)置雜散移除門限，一般設(shè)置為6dB

· 此時(shí)trace1顯示平滑，100Hz處移除雜散，相噪數(shù)據(jù)-118.51dBc/Hz，遠(yuǎn)優(yōu)于上圖結(jié)果-103.41dBc/Hz。

FSWP曲線下方的陰影區(qū)什么意思？

· 陰影代表互相關(guān)增益，表明互相關(guān)次數(shù)是否足夠，是當(dāng)前設(shè)置次數(shù)對(duì)不相關(guān)噪聲的抑制情況。

· 當(dāng)曲線緊貼陰影區(qū)，增加相關(guān)次數(shù)可以改善降低相噪測試結(jié)果，如果曲線與陰影有一定間隔，則無需增加相關(guān)次數(shù)。

相噪測試一般含有剩余噪聲分析功能，包括剩余調(diào)頻、剩余調(diào)相和抖動(dòng)。

剩余噪聲的計(jì)算由儀器自動(dòng)完成，并給出數(shù)據(jù)，公式如下：