隨著數(shù)據(jù)率不斷提高，高速數(shù)字設(shè)計(jì)及組件的信號(hào)完整性變得更具挑戰(zhàn)性。尤其在更高的數(shù)據(jù)率下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 逐漸取代傳統(tǒng)的時(shí)域反射計(jì) (TDR) 裝置，可用于測(cè)試連接器、電纜、PCB 等無源組件。VNA 有助提高準(zhǔn)確性、速度以及 ESD 可靠性，是這個(gè)領(lǐng)域的理想之選。
驗(yàn)證 PCB 上的數(shù)字高速信號(hào)結(jié)構(gòu)或執(zhí)行其他任務(wù)時(shí)，必須在特定層進(jìn)行測(cè)量，同時(shí)確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線以及引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計(jì)算并消除此類測(cè)量影響，確保只保留興趣區(qū)域的測(cè)量結(jié)果。
R&S®ZNB20 裝置可用于驗(yàn)證 PCB 上高達(dá) 20 GHz 的高速差分信號(hào)線路
測(cè)試解決方案
以下裝置示例展示了驗(yàn)證 PCB 上高達(dá) 20 GHz 的高速差分信號(hào)路線。該測(cè)試裝置基于 R&S®ZNB20 四端口 VNA。相應(yīng)去嵌工具（如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夾具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD)）可直接在 R&S®ZNB20 上運(yùn)行，無需使用外部電腦。
除了待測(cè)量的實(shí)際信號(hào)跡線之外，PCB 試樣通常還包括較短信號(hào)跡線以促進(jìn)去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探頭可用于連接 R&S®ZNB20 與此類信號(hào)跡線。
測(cè)試裝置
處理自動(dòng)化
為精簡(jiǎn)測(cè)試程序并指導(dǎo)操作員完成測(cè)試步驟，通常使用軟件自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試。左側(cè)屏幕截圖顯示測(cè)試程序
三個(gè)步驟示例：
?測(cè)量雙通（短）結(jié)構(gòu)以進(jìn)行去嵌，結(jié)果顯示在左側(cè)欄中
?測(cè)量整體（長(zhǎng)）結(jié)構(gòu)，結(jié)果顯示在中間欄中
?根據(jù)所選去嵌方法計(jì)算興趣區(qū)域，結(jié)果顯示在右側(cè)欄中
對(duì)于雙通（短）結(jié)構(gòu)以及整體（長(zhǎng)）結(jié)構(gòu)測(cè)量，兩個(gè)探頭的阻抗變化趨勢(shì)顯示在插入損耗結(jié)果上方。這樣便于快速確定是否需要重新調(diào)整探頭。
眼圖
可以使用 R&S®ZNB-K20 選件進(jìn)一步分析興趣區(qū)域的眼圖。此選件還可用于驗(yàn)證眼圖中的加重、噪聲、抖動(dòng)和均衡影響。它還可用于模板測(cè)試，并提供合格/不合格檢測(cè)與統(tǒng)計(jì)結(jié)果。
在頻域和時(shí)域中同時(shí)顯示眼圖和測(cè)量結(jié)果
結(jié)論
R&S®ZNB 具備所有必要功能，只需使用該儀器，即可測(cè)試 PCB 上的數(shù)字高速信號(hào)結(jié)構(gòu)。還可在該儀器上安裝其他去嵌工具，以便消除探頭、探頭墊、通孔、引入線以及引出線的影響。
