2019年10月24日，由中國儀器儀表學(xué)會組織的“高精度數(shù)字化激光干涉儀關(guān)鍵技術(shù)”項目鑒定會在上海理工大學(xué)成功舉行。本項目是由上海理工大學(xué)、蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司和蘇州維納儀器有限責(zé)任公司共同完成。

本次鑒定會的特點是高規(guī)格和國際化，首次由國內(nèi)外院士和同行專家共同評審的一次國際性鑒定會。鑒定委員會專家由中國工程院院士莊松林、中國工程院院士李同保、中國工程院院士姜會林、中國工程院外籍院士和澳大利亞兩院院士顧敏、中國計量科學(xué)研究院院長方向、上海光學(xué)精密機(jī)械研究所書記邵建達(dá)、德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究所主任Gerd Ehret、英國南安普頓大學(xué)教授John Mcbride、深圳大學(xué)教授彭翔、德國斯圖加特大學(xué)主任Pedrini Giancarlo組成。

鑒定會合影留念

中國儀器儀表學(xué)會副理事長吳幼華和主任燕澤程分別介紹了與會專家和鑒定會要求，上海理工大學(xué)副校長劉平致歡迎辭，上海理工大學(xué)科技處處長張大偉出席，中國工程院院士李同保主持了鑒定會，上海理工大學(xué)教授韓森做項目匯報。

中國儀器儀表學(xué)會副理事長吳幼華和主任燕澤程組織會議

上海理工大學(xué)副校長劉平致歡迎辭

中國工程院院士李同保主持項目鑒定會會議

上海理工大學(xué)教授韓森做項目匯報

鑒定委員會聽取項目研究報告后，審查了有關(guān)技術(shù)文件，查看了高精度數(shù)字化激光干涉儀。評審環(huán)節(jié)，各位專家分別就平面計量方向、測量環(huán)境、傳遞函數(shù)等問題提出了質(zhì)詢和深入討論，并給出合理建議。

最終對項目的關(guān)鍵創(chuàng)新點突破一等平面平晶檢測的瓶頸限制、突破有限特定波長檢測透射系統(tǒng)波前的局限、發(fā)明環(huán)形導(dǎo)軌內(nèi)外槽面光學(xué)檢測裝置、提出模塊化設(shè)計思路給予高度評價。形成鑒定結(jié)論：該項目研究成果技術(shù)難度大，創(chuàng)新性強(qiáng)，取得了多項自主知識產(chǎn)權(quán)，部分產(chǎn)品填補(bǔ)國內(nèi)空白，總體技術(shù)達(dá)到了國際先進(jìn)水平，PV值測量等核心指標(biāo)及相關(guān)技術(shù)達(dá)到國際領(lǐng)先水平。