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電科思儀精品:3672系列多功能矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

隨著微波通信、雷達(dá)、導(dǎo)航、精密制導(dǎo)等技術(shù)的迅速發(fā)展,微波復(fù)雜器件/組件,如:大功率器件、相控陣?yán)走_(dá)T/R組件、混頻器/變頻器等性能不斷提升,對測試儀器提出了更高的要求。經(jīng)過多年持續(xù)研發(fā)和完善,電科思儀3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以很好地滿足新技術(shù)、新趨勢帶來的測量需求。


3672系列化頻率覆蓋10MHz~13.5GHz/ 26.5GHz/ 43.5GHz/ 50GHz/ 67GHz,動態(tài)范圍達(dá)130dB,它具有靈活的配置方式,可以通過一次連接完成微波復(fù)雜器件/組件的綜合多參數(shù)測試。


Ceyear 3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

Ceyear 3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀


主要特點(diǎn)


●具有優(yōu)異的高純多通道激勵源和高靈敏度高穩(wěn)定性的多通道接收機(jī);


跡線噪聲小,測量精度高。幅度跡線噪聲優(yōu)于0.001dB rms,相位跡線噪聲優(yōu)于0.01orms;

校準(zhǔn)類型靈活可選,兼容多種校準(zhǔn)件;

全新噪聲系數(shù)測量功能,一次連接設(shè)置,噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)和S參數(shù)等多種參數(shù)測試一次性完成,噪聲系數(shù)測量不確定度達(dá)0.2dB;

具有一體化脈沖S參數(shù)測量、時域測量、混頻器測量、增益壓縮二維掃描測量、有源互調(diào)失真測量、信號完整性物理層分析、頻譜分析、夾具自動移除、支持THz擴(kuò)頻、天線與RCS測量接收等功能;

端口數(shù)量:2或者4可選。


優(yōu)異的高純多通道激勵源

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供大功率激勵信號,四端口提供雙源激勵,頻率、功率、相位獨(dú)立可控,支持配置程控步進(jìn)衰減器選件,擴(kuò)展輸出功率,端口最小輸出功率達(dá)-95dBm,端口最大輸出功率達(dá)+13dBm,諧波抑制≤-60dBc,諧波抑制實測值見下圖。


諧波抑制實測值


高靈敏度高穩(wěn)定性的多通道接收機(jī)

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀靈敏度可達(dá)-120dBm,穩(wěn)定性:綜合平均幅度漂移為0.007dB/h,綜合平均相位漂移為0.2661o/h。


3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀靈敏度可達(dá)-120dBm



大動態(tài)范圍

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用一次混頻接收的設(shè)計理念,有效擴(kuò)展整機(jī)的測試動態(tài)范圍,可達(dá)130dB,可以滿足大動態(tài)范圍測試場景的需求。


大動態(tài)范圍測試場景



跡線噪聲小,測量精度高

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀優(yōu)異的跡線噪聲指標(biāo)極大地提高了整機(jī)的測試精度,可滿足用戶精確測量的需要,特別有助于小插損器件的精確測量。1kHz中頻帶寬情況下,幅度跡線噪聲≤0.001dB rms,相位≤0.01orms。


1kHz中頻帶寬 幅度跡線噪



噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試

3672A/B/C/D矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀結(jié)合矢量誤差修正和獨(dú)特的源端調(diào)配校準(zhǔn)方法,提供50GHz高精度的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測量功能。


噪聲系數(shù)測量可以得到被測件的噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、噪聲功率參數(shù)和噪聲相關(guān)矩陣,相比以往測試方法其優(yōu)勢在于:

一次連接設(shè)置,噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)和S參數(shù)等多種參數(shù)測試一次性完成;

較小噪聲系數(shù)的精確測量;

測量范圍大(0dB~55dB);

噪聲系數(shù)測量不確定度≤0.2dB;

可用于芯片在片噪聲系數(shù)的精確測量;

可用于夾具、測試系統(tǒng)等場景下噪聲系數(shù)的精確測量。


噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試



頻譜分析

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀利用軟件算法,依托高靈敏度高穩(wěn)定性的多通道接收機(jī)實現(xiàn)頻譜分析功能。


矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻譜分析功能采用快速鏡頻抑制算法,在不增加預(yù)選濾波器硬件的基礎(chǔ)上實現(xiàn)頻譜分析功能:

多通道接收機(jī)可同時獲取被測件頻譜特性;

支持峰值、平均、采樣等多種檢波模式;

支持多種雜散抑制模式,平衡處理精度與掃描速度;

實時頻譜處理帶寬達(dá)38MHz;

支持帶內(nèi)噪聲、帶內(nèi)頻譜等多種光標(biāo)搜索功能;

支持點(diǎn)頻、掃頻、掃功率模式下的頻譜測量;

提供精確校準(zhǔn)功能,去除連接器等對測試結(jié)果的影響。


頻譜分析功能



混頻器/變頻器標(biāo)量和矢量參數(shù)測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀四端口測量功能具有內(nèi)置雙源,可以完成混頻器/變頻器標(biāo)量和矢量參數(shù)測試。


1)混頻器/變頻器標(biāo)量參數(shù)測量

混頻器/變頻器標(biāo)量測量應(yīng)用選件可以得到頻域的所有標(biāo)量參數(shù)(包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等)。相比以往測試方法其優(yōu)勢在于:

一次連接設(shè)置,多參數(shù)測試一次性完成;

人性化簡易的校準(zhǔn)界面;

方便快捷的USB電子校準(zhǔn)件校準(zhǔn),USB功率探頭功率校準(zhǔn);

內(nèi)置雙激勵源,無需額外信號源提供本振信號;

基于端口匹配的功率校準(zhǔn)技術(shù);

為用戶解決高準(zhǔn)確度的混頻器標(biāo)量參數(shù)測試需求。


混頻器/變頻器標(biāo)量參數(shù)測量


2)混頻器/變頻器矢量參數(shù)測量

矢量混頻/變頻器件測試應(yīng)用選件集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率(正向及反向)、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試應(yīng)用軟件。其主要特點(diǎn)包括:

測量過程需使用一個參考混頻器進(jìn)行表征;

內(nèi)置雙激勵源,無需額外信號源提供本振信號;

測試參數(shù)全面,相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。


一體化脈沖S參數(shù)測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有脈沖調(diào)制信號輸出,可以完成脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測試。具有:

內(nèi)置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器,端口1、3可輸出脈沖調(diào)制信號,脈沖周期:20ns~70s,脈沖調(diào)制開關(guān)比:≤-64dB;

●完整的脈沖解決方案,可在寬帶模式和窄帶模式下進(jìn)行脈沖內(nèi)定點(diǎn)、脈沖包絡(luò)和掃頻脈沖測量;

●與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器同步,實現(xiàn)復(fù)雜脈沖同步測試。


有源互調(diào)失真測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有放大器或者混頻器等有源器件的互調(diào)失真和互調(diào)頻譜測量功能。具有:

內(nèi)置開關(guān)和合路器,端口1可輸出高純雙音信號;

可設(shè)置多種掃描類型,如:線性掃描fc、線性掃描DeltaF、功率掃描、點(diǎn)頻等;

互調(diào)失真功能可完成有源器件的IM3、OIP3、IIP3等測試;

互調(diào)頻譜功能可完成有源器件的輸入譜、輸出譜、反射譜的2階、3階…N階頻譜測試;

人性化向?qū)?zhǔn)界面,易于操作,測試效率高。


有源互調(diào)失真測試



信號完整性物理層分析

隨著信息產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展,對網(wǎng)絡(luò)帶寬的需求也越來越高,需要信息設(shè)備(如大型服務(wù)器、計算機(jī)和交換機(jī)等)能夠承載的數(shù)據(jù)速率越來越快。信息設(shè)備生產(chǎn)商對高速互連通道中的信號完整性問題也愈發(fā)重視,傳輸鏈路的特性變化會顯著的影響信號傳輸質(zhì)量,信號完整性物理層分析是評價高速鏈路信號傳輸質(zhì)量的重要手段。

TDR時域阻抗測試,可以精準(zhǔn)測試傳輸線上阻抗特性的變化情況,定位不連續(xù)性;

便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測試,可同時分析時域和頻域數(shù)據(jù),用于測試多條傳輸線之間的相互影響的程度;


近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測試


提供基于S參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。仿真碼型輸出單元用于產(chǎn)生0、1變化的數(shù)據(jù)位,把仿真碼型和被測件的時域沖激響應(yīng)進(jìn)行卷積,疊加后得到虛擬眼圖;

●根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn),可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測試。高級時域分析選件可以在仿真眼圖上施加抖動、噪聲等干擾,通過預(yù)加重和均衡等校正算法的加入,模擬真實環(huán)境下高速鏈路不同位置的仿真眼圖。

仿真眼圖


自動夾具移除功能,實現(xiàn)非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測試

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量對象涉及到非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件,如封裝微波器件、在片器件等,此類器件最顯著的特點(diǎn)是無法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。使用夾具可以將被測件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上,但同時也引入了夾具誤差。自動夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲以及夾具去嵌入,以獲得被測件的真實參數(shù),其操作簡便,精度高。


非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測試


利用自動夾具移除功能,把被測件作為一個整體,進(jìn)行平衡參數(shù)提取,并進(jìn)行四端口的去嵌入。測試結(jié)果顯示,傳輸參數(shù)能夠很好的去除掉,同樣近端串?dāng)_和遠(yuǎn)端串?dāng)_也得到有效去除。


增益壓縮二維掃描,提高測試效率

放大器等有源器件的增益壓縮測量應(yīng)用僅需一次設(shè)置,一次連接,一次校準(zhǔn)就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)(包括壓縮點(diǎn)的輸入功率,壓縮點(diǎn)的輸出功率,壓縮點(diǎn)的增益等)和線性參數(shù)(包括線性增益,輸入匹配,輸出匹配等)。具有:

快速準(zhǔn)確的智能掃描;

一目了然的向?qū)?zhǔn);

方便快捷的USB電子校準(zhǔn),USB功率校準(zhǔn);

二維掃描(頻率點(diǎn)掃功率和功率點(diǎn)掃頻率)一次完成;

多種增益壓縮測量方法——從線性/最大增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、從回退點(diǎn)壓縮和X/Y法壓縮。


增益壓縮二維掃描,提高測試效率

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